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Synopsis
This volume reflects the rapid evolution of surface analysis techniques involving ion and neural spectroscopies. Sputtering techniques are comprehensively discussed in chapters covering instrumentation, theory, quantification, dynamic and static SIMS and various applications.
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- ÉditeurJohn Wiley & Sons Ltd
- Date d'édition1996
- ISBN 10 0471964980
- ISBN 13 9780471964988
- ReliureBroché
- Langueanglais
- Numéro d'édition2
- Nombre de pages756
- Coordonnées du fabricantnon disponible
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