Foundations of Measurement: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations - Couverture souple

Suppes, Patrick; Luce, R. Duncan; Krantz, David H.; Tversky, Amos

 
9780486453156: Foundations of Measurement: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations

Synopsis

All of the sciences have a need for quantitative measurement. This influential series established the formal foundations for measurement, justifying the assignment of numbers to objects in terms of their structural correspondence. 1989 edition.

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À propos de l?auteur

David H. Krantz is affiliated with Columbia University; R. Duncan Luce with the University of California, Irvine, and Patrick Suppes with Stanford University. Amos Tversky is deceased.

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Autres éditions populaires du même titre

9780124254022: Foundations of Measurement: Geometrical, Threshold, and Probabilistic Representations

Edition présentée

ISBN 10 :  0124254020 ISBN 13 :  9780124254022
Editeur : Academic Press Inc, 1990
Couverture rigide