Computed Electron Micrographs and Defect Identification - Couverture rigide

Head, A.K.; Etc.

9780720417579: Computed Electron Micrographs and Defect Identification

Couverture rigide

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

Editeur : Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973

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D�tails de l'�dition

�diteur: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S.
Date d'�dition: 1973
Langue: anglais
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Reliure: Reli�
Nombre de pages: 406
Coordonn�es du fabricant: non disponible
Personne responsable: non disponible

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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.)

Head, A.K. et al

Edit� par Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

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Etat : Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570. N� de r�f. du vendeur 9173201

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Computed Electron Micrographs and Defect Identification

A.K. Head et etc.

Edit� par Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

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Hardcover. Etat : Bon. Edition 1973. Ammareal reverse jusqu'� 15% du prix net de cet article � des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Edition 1973. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. N� de r�f. du vendeur G-563-411

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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)

A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood

Edit� par North-Holland Publishing Company, 1973

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

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Vendeur : MB Books, Derbyshire, Royaume-Uni

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Hardcover. Etat : Good. No Jacket. Condition : Good. Hard cover, no jacket. Former university library copy with associated markings. 400pp. No annotations or highlighting. Covered in protective laminate. Minor shelf wear. Photo on request. N� de r�f. du vendeur 943313

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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Volume 7)

Head, A. K. et al.

Edit� par North Holland Publishing Company, 1973

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

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Etat : Fair. Volume 7. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,1000grams, ISBN:0720417570. N� de r�f. du vendeur 9537239

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