Computed Electron Micrographs and Defect Identification - Couverture rigide

Head, A.K.; Etc.

9780720417579: Computed Electron Micrographs and Defect Identification

Couverture rigide

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

Editeur : Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S., 1973

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D�tails de l'�dition

�diteur: Elsevier Science Publishing Co Inc.,U.S.
Date d'�dition: 1973
Langue: anglais
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Reliure: Reli�
Nombre de pages: 406
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)

A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood

Edit� par North-Holland Publishing Company, 1973

ISBN 10 : 0720417570 ISBN 13 : 9780720417579

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