Articles liés à Full Field Optical Metrology Applications
Synopsis
This book explores specific optical techniques and methods in Full-Field based metrology. The text covers surface metrology and is useful for scientists and engineers. It explores other characteristics related to the surface, such as strain, stress, vibration, contouring, and its x, y, and z displacements. Also, the book presents modern methods for phase retrieval, and optical coherence tomography (OCT).
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Full Field Optical Metrology Applications
Image d'archives
Full Field Optical Metrology and Applications
Edité par
Institute of Physics Publishing, 2022
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. N° de réf. du vendeur CX-9780750330251
Acheter neuf
EUR 128,79
Expédition à EUR 4,89
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image d'archives
Full Field Optical Metrology and Applications
Edité par
Institute of Physics Publishing, 2022
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : PBShop.store US, Wood Dale, IL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
HRD. Etat : New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. N° de réf. du vendeur CX-9780750330251
Acheter neuf
EUR 134,85
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 15 disponible(s)
Image d'archives
Full Field Optical Metrology Applications
Edité par
Iop Publishing Ltd, 2023
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 44508541
Acheter D'occasion
EUR 171,42
Expédition à EUR 2,35
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Full Field Optical Metrology Applications (Advances in Optics, Photonics and Optoelectronics)
Edité par
Iop Publishing Ltd, 2023
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In English. N° de réf. du vendeur ria9780750330251_new
Acheter neuf
EUR 170,36
Expédition à EUR 13,28
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Full Field Optical Metrology Applications
Edité par
Iop Publishing Ltd, 2023
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 44508541-n
Acheter neuf
EUR 170,35
Expédition à EUR 17,65
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 3 disponible(s)
Image d'archives
Full Field Optical Metrology Applications
Edité par
Iop Publishing Ltd, 2023
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 44508541
Acheter D'occasion
EUR 171,24
Expédition à EUR 17,65
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 3 disponible(s)
Image d'archives
Full Field Optical Metrology Applications
Edité par
Iop Publishing Ltd, 2023
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 44508541-n
Acheter neuf
EUR 188,80
Expédition à EUR 2,35
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Full Field Optical Metrology Applications (Advances in Optics, Photonics and Optoelectronics)
Edité par
Iop Publishing Ltd, 2023
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : California Books, Miami, FL, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur I-9780750330251
Acheter neuf
EUR 219,69
Livraison gratuite
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Full Field Optical Metrology Applications
Vendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 544054317
Acheter neuf
EUR 198,83
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Full Field Optical Metrology and Applications
Edité par
IOP Publishing Ltd Dez 2022, 2022
ISBN 10 : 0750330252
ISBN 13 : 9780750330251
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. Neuware - Full Field Optical Metrology methods and techniques have been in existence since the first interferometry experiments by Thomas Young in the 19th Century. This book introduces non-contact optical techniques based on the speckle effect in more detail. It also covers surface metrology and explores other characteristics related to the surface, such as strain, stress, vibration, contouring, and its x, y, and z displacements (coupled as vectors in 2D and 3D). In addition, the book presents modern methods for phase retrieval, optical coherence tomography (OCT), and the moiré method.The book considers theoretical fundamentals and explores a number of applications for full-field optical metrology that are known to be widely used in many areas of interest such as biomedicine, quality control, remote sensing and probing, and manufacturing design.Scientists and Engineers looking for a reference book giving detailed work on methods/techniques in full-field speckle-based metrology are the key audiences for this text.Key Features- Provides foundations on the classical subject of interferometry- Pursues several applications for full-field optical metrology that are known to be widely used in many areas of interest, such as biomedicine, quality control, remote sensing and probing, and manufacturing design- Includes a complete description of the methodology to perform 3D digital holographic/speckle interferometry and electron holography, both of which are not available in other texts. N° de réf. du vendeur 9780750330251
Acheter neuf
EUR 278,30
Expédition à EUR 35
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)