Nanoscale Standards by Metrological AFM and Other Instruments - Couverture souple

Misumi, Ichiko

 
9780750331920: Nanoscale Standards by Metrological AFM and Other Instruments

Synopsis

This book reviews nanometrological standards before proceeding to detail pitch, step height, line width, nanoparticle size, and surface roughness. Essential for users making quantitative nanoscale measurements, in a commercial or academic research setting, or involved in engineering nanometrology for quality control in industrial applications.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Autres éditions populaires du même titre

9780750331890: Nanoscale Standards by Metrological Afm and Other Instruments

Edition présentée

ISBN 10 :  0750331895 ISBN 13 :  9780750331890
Editeur : Institute of Physics Publishing, 2021
Couverture rigide