Articles liés à Characterization in Silicon Processing
Synopsis
This volume is devoted to consideration of the use of surface, thin film and interface characterization tools in support of silicon-based semiconductor processing. Each chapter treats a type of film used in silicon devices and discusses typical problems seen throughout that film's history, including characterization tools which are most effectively used in clarifying and solving those problems.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
- ÉditeurButterworth-Heinemann Ltd
- Date d'édition1993
- ISBN 10 0750691727
- ISBN 13 9780750691727
- ReliureRelié
- Langueanglais
- Nombre de pages250
- Coordonnées du fabricantnon disponible
Résultats de recherche pour Characterization in Silicon Processing
Image d'archives
Characterization in Silicon Processing
Edité par
Saint Louis, Missouri, U.S.A.: Butterworth-Heinemann, 1993
ISBN 10 : 0750691727
ISBN 13 : 9780750691727
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Rob the Book Man, Vancouver, WA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Very Good. Hardback in very good condition. Libary stamp on bottom of pages. N° de réf. du vendeur 21838
Quantité disponible : 1 disponible(s)