VLSI Test Symposium (Vts 2003) - Couverture souple

IEEE

 
9780769519241: VLSI Test Symposium (Vts 2003)
Couverture souple
ISBN 10 : 0769519245 ISBN 13 : 9780769519241
Editeur : I.E.E.E.Press, 2003

Synopsis

The proceedings of the 21st IEEE VLSI test symposium (VTS (2003) describing innovations in the testing of integrated circuits and systems.

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Éditeur
I.E.E.E.Press
Date d'édition
2003
Langue
anglais
ISBN 10 
0769519245
ISBN 13 
9780769519241
Reliure
Broché
Nombre de pages
492
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible