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Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability - Couverture rigide

Sharma, Ashok K.

 
9780780310001: Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability
Couverture rigide
ISBN 10 : 0780310004 ISBN 13 : 9780780310001
Editeur : Wiley-IEEE Press, 2002

Synopsis

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.
* Memory cell structures and fabrication technologies.
* Application-specific memories and architectures.
* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.
* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.
* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

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À propos de l'auteur

ASHOK K. SHARMA is the author of Semiconductor Memories: Technology, Testing, and Reliability. He is currently working as a reliability engineering manager at NASA, Goddard Space Flight Center, Greenbelt, Maryland.

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Éditeur
Wiley-IEEE Press
Date d'édition
2002
Langue
anglais
ISBN 10 
0780310004
ISBN 13 
9780780310001
Reliure
Relié
Nombre de pages
480
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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Edition présentée

ISBN 10 :  0471462438 ISBN 13 :  9780471462439
Editeur : Wiley-IEEE Press, 2003
Couverture rigide