Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology - Couverture souple

Livre 4 sur 241: NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
 
9780792366867: Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
Couverture souple
ISBN 10 : 0792366867 ISBN 13 : 9780792366867
Editeur : Springer, 2009

Synopsis

Silicon dioxide plays a central role in most contemporary electronic and photonic technologies, from fiber optics for communications and medical applications to metal-oxide-semiconductor devices. Many of these applications directly involve point defects, which can either be introduced during the manufacturing process or by exposure to ionizing radiation. They can also be deliberately created to exploit new technologies.
This book provides a general description of the influence that point defects have on the global properties of the bulk material and their spectroscopic characterization through ESR and optical spectroscopy.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Éditeur
Springer
Date d'édition
2009
Langue
anglais
ISBN 10 
0792366867
ISBN 13 
9780792366867
Reliure
Broché
Nombre de pages
636
Éditeur
Pacchioni Gianfranco
Coordonnées du fabricant
ProductSafety@springernature.com
ProductSafety@springernature.com

Poststr. 9
Darmstadt
64293
Allemagne

Autres éditions populaires du même titre

9780792366850: Defects in Sio2 and Related Dielectrics: Science and Technology

Edition présentée

ISBN 10 :  0792366859 ISBN 13 :  9780792366850
Editeur : Kluwer Academic Publishers, 2000
Couverture rigide