Articles liés à Software Defect and Operational Profile Modeling
Synopsis
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Software Defect and Operational Profile Modeling
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
impression à la demandeVendeur : moluna, Greven, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 Preface. 1. Introduction. 2. Empirical Regression Methods. 3. Dynamic Methods. 4. Capture-Recapture Methods. 5. Decomposition Me. N° de réf. du vendeur 5970784
Acheter neuf
EUR 180,07
Expédition à EUR 48,99
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 757575-n
Acheter neuf
EUR 217,09
Expédition à EUR 17,68
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
Edité par
Springer US Aug 1998, 1998
ISBN 10 : 0792382595
ISBN 13 : 9780792382591
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1 292 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9780792382591
Acheter neuf
EUR 213,99
Expédition à EUR 23
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 2 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. N° de réf. du vendeur 757575-n
Acheter neuf
EUR 239,88
Expédition à EUR 2,35
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
Edité par
Springer, 1998
ISBN 10 : 0792382595
ISBN 13 : 9780792382591
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 757575
Acheter D'occasion
EUR 242,16
Expédition à EUR 2,35
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
impression à la demandeVendeur : preigu, Osnabrück, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. Software Defect and Operational Profile Modeling | Kai-Yuan Cai | Buch | xix | Englisch | 1998 | Springer US | EAN 9780792382591 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 102549241
Acheter neuf
EUR 186,70
Expédition à EUR 70
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 5 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
impression à la demandeVendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1. N° de réf. du vendeur 9780792382591
Acheter neuf
EUR 226,39
Expédition à EUR 35
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
Edité par
Springer, 1998
ISBN 10 : 0792382595
ISBN 13 : 9780792382591
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : GreatBookPricesUK, Woodford Green, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : As New. Unread book in perfect condition. N° de réf. du vendeur 757575
Acheter D'occasion
EUR 248,34
Expédition à EUR 17,68
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image d'archives
Software Defect and Operational Profile Modeling (International Series in Software Engineering, 4)
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Etat : New. In English. N° de réf. du vendeur ria9780792382591_new
Acheter neuf
EUR 252,75
Expédition à EUR 13,30
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : Plus de 20 disponibles
Image fournie par le vendeur
Software Defect and Operational Profile Modeling
Edité par
Springer US, Springer New York Aug 1998, 1998
ISBN 10 : 0792382595
ISBN 13 : 9780792382591
Neuf
Couverture rigide
Vendeur : buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 292 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9780792382591
Acheter neuf
EUR 213,99
Expédition à EUR 60
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)