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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard - Couverture rigide

 
9780792386865: Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Synopsis

This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems.

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À propos de l?auteur

Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Working Group.

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9781441951151: Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan: A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Edition présentée

ISBN 10 :  1441951156 ISBN 13 :  9781441951151
Editeur : Springer, 2010
Couverture souple

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Adam Osseiran,
Edité par Springer, 1999
ISBN 10 : 0792386868 ISBN 13 : 9780792386865
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Edité par Springer, 1999
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Osseiran, Adam
Edité par Springer US, 1999
ISBN 10 : 0792386868 ISBN 13 : 9780792386865
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Vendeur : moluna, Greven, Allemagne

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Gebunden. Etat : New. Adam Osseiran is Professor of Electrical Engineering at the Engineering Institute of Geneva, Switzerland and the European Design and Test Specialist at Fluence Technology Inc., Beaverton, Oregon, USA. He is the present Chair of the IEEE 1149.4 Work. N° de réf. du vendeur 458443073

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ISBN 10 : 0792386868 ISBN 13 : 9780792386865
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Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni

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Osseiran, Adam (Editor)
Edité par Kluwer Academic Pub, 1999
ISBN 10 : 0792386868 ISBN 13 : 9780792386865
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Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni

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Hardcover. Etat : Brand New. 1st edition. 155 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-0792386868

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Adam Osseiran
Edité par Springer Us Okt 1999, 1999
ISBN 10 : 0792386868 ISBN 13 : 9780792386865
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

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Buch. Etat : Neu. Neuware - This book contains more than the IEEE Standard 1149.4. It also contains the thoughts of those who developed the standard. Adam Osseiran has edited the original writings of Brian Wilkins, Colin Maunder, Rod Tulloss, Steve Sunter, Mani Soma, Keith Lofstrom and John McDermid, all of whom have personally contributed to this standard. To preserve the original spirit, only minor changes were made, and the reader will sense a chapter-to-chapter variation in the style of expression. This may appear awkward to some, although I found the Iack of monotonicity refreshing. A system consists of a specific organization of parts. The function of the system cannot be performed by an individual part or even a disorganized collection ofthe same parts. Testing has a system-like characteristic. Testing of a system does not follow directly from the testing of its parts, and a system built with testable parts can sometimes be impossible to test. Therefore, testability of the system must be organized. Some years ago, the IEEE published the boundary-scan Standard 1149.1. That Standard provided an architecture for digital VLSI chips. The chips designed with the 1149.1 architecture can be integrated into a testable system. However, many systems today contain both analog and digital chips. Even if all digital chips are compliant with the standard, the testability of a mixed-signal system cannot be guaranteed. The new Standard 1149.4, described in this book, extends the previous architecture to mixed-signal systems. N° de réf. du vendeur 9780792386865

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