Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation - Couverture rigide

Heyman, Joseph S.

 
9780815511717: Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation
Couverture rigide
ISBN 10 : 081551171X ISBN 13 : 9780815511717
Editeur : William Andrew Publishing, 1998

Synopsis

This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common measurement trouble spots.

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Présentation de l'éditeur

This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common measurement trouble spots.

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Éditeur
William Andrew Publishing
Date d'édition
1998
Langue
anglais
ISBN 10 
081551171X
ISBN 13 
9780815511717
Reliure
Relié
Nombre de pages
140
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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