Characterization of Semiconductor Materials: Principles and Methods - Couverture rigide

McGuire, Gary F.

 
9780815512004: Characterization of Semiconductor Materials: Principles and Methods
Couverture rigide
ISBN 10 : 0815512007 ISBN 13 : 9780815512004
Editeur : William Andrew Publishing, 1989

Synopsis

Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.

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Présentation de l'éditeur

Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.

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Éditeur
William Andrew Publishing
Date d'édition
1989
Langue
anglais
ISBN 10 
0815512007
ISBN 13 
9780815512004
Reliure
Relié
Nombre de pages
342
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible