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The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: Proceedings : November 13-15, 1995 Lafayette, Louisiana - Couverture rigide

IEEE Computer Society

 
9780818671074: The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: Proceedings : November 13-15, 1995 Lafayette, Louisiana
Couverture rigide
ISBN 10 : 0818671076 ISBN 13 : 9780818671074
Editeur : IEEE Publications,U.S., 1995
  • ÉditeurIEEE Publications,U.S.
  • Date d'édition1995
  • ISBN 10 0818671076
  • ISBN 13 9780818671074
  • ReliureRelié
  • Langueanglais
  • Nombre de pages305
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9780818671074: The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: Proceedings : November 13-15, 1995 Lafayette, Louisiana
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ISBN 10 : 0818671076 ISBN 13 : 9780818671074
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