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The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: Proceedings : November 13-15, 1995 Lafayette, Louisiana - Couverture rigide

IEEE Computer Society

 
9780818671074: The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: Proceedings : November 13-15, 1995 Lafayette, Louisiana
Couverture rigide
ISBN 10 : 0818671076 ISBN 13 : 9780818671074
Editeur : IEEE Publications,U.S., 1995
Éditeur
IEEE Publications,U.S.
Date d'édition
1995
Langue
anglais
ISBN 10 
0818671076
ISBN 13 
9780818671074
Reliure
Relié
Nombre de pages
305
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ISBN 10 : 0818671076 ISBN 13 : 9780818671074
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