The IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: Proceedings : November 13-15, 1995 Lafayette, Louisiana - Couverture rigide
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The IEEE international workshop on Defect & Fault-Tolerance in VLSI Systems, Proceedings, 1995.
Edité par
IEEE Computer Society Press, Los Alamitos, 1995
ISBN 10 : 0818671076
ISBN 13 : 9780818671074
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Vendeur : Lost and Found Books, Healesville, VIC, Australie
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hard cover. No Jacket. Illustrated in black and white. 305 pages VG. Slight shelf wear to covers, overall very good condition. N° de réf. du vendeur 13953
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