1998 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems, Dft '98 - Couverture souple

Institute Of Electrical And Electronics Engineers

 
9780818688324: 1998 International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in Vlsi Systems, Dft '98
Couverture souple
ISBN 10 : 0818688327 ISBN 13 : 9780818688324
Editeur : I.E.E.E.Press, 1998

Synopsis

This volume covers topics including: yield and defect density; reliability enhancement; defect and fault analysis; testing techniques; fault diagnosis; fault-tolerant designs; high-level synthesis of reliable systems; and yield and reliability issues of analogue and mixed signal circuits.

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Éditeur
I.E.E.E.Press
Date d'édition
1998
Langue
anglais
ISBN 10 
0818688327
ISBN 13 
9780818688324
Reliure
Broché
Nombre de pages
325
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible