Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control: Proceedings of a Conference Held 28-29 September 1993 Monterey, California - Couverture rigide
Synopsis
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.
Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.
Résultats de recherche pour Handbook of Critical Dimension Metrology and Process...
Image fournie par le vendeur
Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control. Proceedings of a conference held 28-29 September 1993 Monterey, California. [= Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52].
Edité par
Bellingham SPIE Optical Engineering Press, 1994
ISBN 10 : 0819413631
ISBN 13 : 9780819413635
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Antiquariat Fluck, Berlin, Allemagne
Évaluation du vendeur 5 sur 5 étoiles
Original-Leinwand; kl. 4°; x 358 Seiten. Gutes bis sehr gutes Exemplar. Sprache: Englisch Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52. 950 gr. N° de réf. du vendeur 11956
Acheter D'occasion
EUR 18
Expédition à EUR 33
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Expédition depuis Allemagne vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control
Edité par
Bellingham, Washington, U.S.A.: Society of Photo Optical, 1994
ISBN 10 : 0819413631
ISBN 13 : 9780819413635
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Rob the Book Man, Vancouver, WA, Etats-Unis
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Very Good. hardback in very good condition. N° de réf. du vendeur 20443
Acheter D'occasion
EUR 88,34
Expédition à EUR 6
Expédition nationale : Etats-Unis
Expédition nationale : Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)
Image d'archives
Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control: Proceedings of a Conference Held 28-29 September 1993 Monterey, California (Critical Reviews of Optical Science & Technology)
Edité par
Society of Photo Optical, 1994
ISBN 10 : 0819413631
ISBN 13 : 9780819413635
Ancien ou d'occasion
Couverture rigide
Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni
Évaluation du vendeur 4 sur 5 étoiles
Hardcover. Etat : Very Good. Very Good. Dust Jacket may NOT BE INCLUDED.CDs may be missing. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book. N° de réf. du vendeur ERICA82908194136316
Acheter D'occasion
EUR 252,02
Expédition à EUR 28,72
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Expédition depuis Royaume-Uni vers Etats-Unis
Quantité disponible : 1 disponible(s)