Synopsis
Advances in solid state detector arrays, flat panel displays, and digital image processing have prompted an increasing variety of sampled imaging products and possibilities. These technology developments provide new opportunities and problems for the design engineer and system analyst-this tutorial's intended reader.
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Analysis of Sampled Imaging Systems (SPIE Tutorial Texts in Optical Engineering Vol. TT39)
Edité par
SPIE Publications, 2000
ISBN 10 : 0819434892
ISBN 13 : 9780819434890
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Analysis of Sampled Imaging Systems
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SPIE Publications, Estados Unidos, 2000
ISBN 10 : 0819434892
ISBN 13 : 9780819434890
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Tapa Blanda. Etat : Bien. Colección 'SPIE Tutorial Texts in Optical Engineering'. Rústica. Ilustrado.9780819434890. SPIE Publications. Estados Unidos. 2000. 25x18 centímetros. 176 páginas. Tapa blanda. Estado=Bien. Inglés. N° de réf. du vendeur 44894
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