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Optical System Contamination: Effects, Measurements, and Control VII - Couverture souple

 
9780819445414: Optical System Contamination: Effects, Measurements, and Control VII

Synopsis

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

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Chen, Philip T; Johns, O.M. Uy
Edité par Society of Photo Optical, 2002
ISBN 10 : 081944541X ISBN 13 : 9780819445414
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Vendeur : Hay-on-Wye Booksellers, Hay-on-Wye, HEREF, Royaume-Uni

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