Synopsis
"Introduces a theory of random testing in digital circuits for the first time and offers practical guidance for the implementation of random pattern generators, signature analyzers design for random testability, and testing results. Contains several new and unpublished results. "
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À propos de l?auteur
Rene David is a Research Director at the Centre National de la recherche Scientififique working at the Instuit National Polytechnique de Grenoble, France.
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Résultats de recherche pour Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Edité par
CRC Press, 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits Theory and Applications
Edité par
CRC Press, 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Application
Edité par
Marcel Dekker Inc., New York, NY, U.S.A., 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits : Theory and Applications
Edité par
Taylor & Francis Inc, 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 496 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. N° de réf. du vendeur 1244488/202
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Random Testing of Digital Circuits: Theory and Applications
Edité par
CRC Press 1998-04-08, 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Edité par
CRC Press, 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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Random Testing of Digital Circuits : Theory & Application
Edité par
CRC Press, 1998
ISBN 10 : 0824701828
ISBN 13 : 9780824701826
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