"Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum."
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Rene van GriekenAndrzej Markowicz
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Buch. Etat : Neu. Neuware - Helps to improve fundamentals and applications of various modes of x-ray spectrometry, including total reflection and polarized beam x-ray fluorescence analysis, and synchrotron radiation induced x-ray emission. This title intends to promote the measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum. N° de réf. du vendeur 9780824706005
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