Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications - Couverture rigide
Livre 77 sur 98: Optical Science and Engineering
Présentation de l'éditeur
The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications (Optical Engineering)
Edité par
Marcel Dekker Inc, 1982
ISBN 10 : 0824715535
ISBN 13 : 9780824715533
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Electron and ion microscopy and microanalysis: Principles and applications (Optical engineering)
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Marcel Dekker, 1982
ISBN 10 : 0824715535
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Marcel Dekker, 1982
ISBN 10 : 0824715535
ISBN 13 : 9780824715533
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Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications
Edité par
Marcel Dekker Inc, 1982
ISBN 10 : 0824715535
ISBN 13 : 9780824715533
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Hardcover. Etat : Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Légères traces d'usure sur la couverture. Edition 1982. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Slight signs of wear on the cover. Edition 1982. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations. N° de réf. du vendeur D-561-063
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Electron and ion microscopy and microanalysis: Principles and applications (Optical engineering)
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