High Resolution X-Ray Diffraction and Topography - Couverture rigide

Bowen, D. Keith; Tanner, Brian K.

 
9780850667585: High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Couverture rigide
ISBN 10 : 0850667585 ISBN 13 : 9780850667585
Editeur : Taylor & Francis Ltd, 1998

Synopsis

The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.

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À propos de l'auteur

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

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Éditeur
Taylor & Francis Ltd
Date d'édition
1998
Langue
anglais
ISBN 10 
0850667585
ISBN 13 
9780850667585
Reliure
Relié
Nombre de pages
300
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
gpsr@libri.de
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