High Resolution X-Ray Diffraction and Topography - Couverture rigide

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

 
9780850667585: High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Couverture rigide
ISBN 10 : 0850667585 ISBN 13 : 9780850667585
Editeur : Taylor & Francis Ltd, 1998

Synopsis

The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

À propos de l?auteur

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

Les informations fournies dans la section « A propos du livre » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Éditeur
Taylor & Francis Ltd
Date d'édition
1998
Langue
anglais
ISBN 10 
0850667585
ISBN 13 
9780850667585
Reliure
Relié
Nombre de pages
262
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
gpsr@libri.de
gpsr@libri.de

Friedensallee 273
Hamburg
22763
Allemagne

Autres éditions populaires du même titre

9780367400637: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Edition présentée

ISBN 10 :  0367400634 ISBN 13 :  9780367400637
Editeur : CRC Press, 2019
Couverture souple