Microelectronic Failure Analysis Desk Reference: 2001 Supplement - Couverture souple

Asm International

 
9780871707451: Microelectronic Failure Analysis Desk Reference: 2001 Supplement
Couverture souple
ISBN 10 : 0871707454 ISBN 13 : 9780871707451
Editeur : ASM International, 2001

Synopsis

CD-ROM content is in fully searchable Adobe Acrobat PDF format, Developed by the Electronic Device Failure Analysis Society (EDFAS) Publications Committee. Provides new or expanded coverage on important techniques for microelectronic failure analysis. Contents include: Backside isolation techniques; Flip-chip focused ion beam backside navigation; Circuit validation techniques; Copper metallization deprocessing; Tunnelling atomic force microscopy; Scanning capacitance microscopy; Scanning probe microscopy; Packaging and chip cross-sectioning; Glossary of failure analysis tool acronyms; Updated key word index to ISTFA Proceedings volumes and to the Microelectronic Failure Analysis Desk Reference, 4th Edition. (+VAT on UK orders)

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Éditeur
ASM International
Date d'édition
2001
Langue
anglais
ISBN 10 
0871707454
ISBN 13 
9780871707451
Reliure
Broché
Nombre de pages
171
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible