Synopsis
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Artech House Publishers, 1989
ISBN 10 : 0890062846
ISBN 13 : 9780890062845
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Artech House Publishers, 1989
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Microelectronic Reliability Vol I Test and Diagnostics Reliability, Test and Diagnostics v 1 Materials science library
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(Ipf)Microelectronic Reliability
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
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Microelectronic Reliability Vol. I: Test and Diagnostics
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