Reliability and Degradation of Iii-V Optical Devices - Couverture rigide

Ueda, Osamu

 
9780890066522: Reliability and Degradation of Iii-V Optical Devices
Couverture rigide
ISBN 10 : 0890066523 ISBN 13 : 9780890066522
Editeur : Artech House Publishers, 1996

Synopsis

Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.

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À propos de l?auteur

Osamu Ueda is a senior researcher at Fujitsu Laboratories Ltd., Japan. He earned his Ph.D. in physical engineering from the University of Tokyo. Dr. Ueda has written more than 100 professional papers and is a member of the Society of Applied Physics, the Society of Electron Microscopy, the Electrochemical Society, and the Materials Research Society.

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Éditeur
Artech House Publishers
Date d'édition
1996
Langue
anglais
ISBN 10 
0890066523
ISBN 13 
9780890066522
Reliure
Relié
Nombre de pages
372
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible