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Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics - Couverture rigide

Livre 15 sur 20: Cambridge RF and Microwave Engineering

Wallis, T. Mitch; Kabos, Pavel

 
9781107120686: Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics
Couverture rigide
ISBN 10 : 1107120683 ISBN 13 : 9781107120686
Editeur : Cambridge University Press, 2017

Synopsis

Connect basic theory with real-world applications with this practical, cross-disciplinary guide to radio frequency measurement of nanoscale devices.

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À propos des auteurs

T. Mitch Wallis is a physicist in the Applied Physics Division at the National Institute of Standards and Technology, Boulder, Colorado. He is also the Chair of the Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) Microwave Theory and Techniques Society's Technical Committee on Radio Frequency Nanotechnology.

Pavel Kabos is a physicist in the Applied Physics Division at the National Institute of Standards and Technology. He is the author of Magnetostatic Waves and Their Applications (1993) and a Fellow of the Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).

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Éditeur
Cambridge University Press
Date d'édition
2017
Langue
anglais
ISBN 10 
1107120683
ISBN 13 
9781107120686
Reliure
Relié
Nombre de pages
328
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
Avery
https://www.avery.fr/

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Dardilly
France