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Radiation Status of Sub-65 NM Electronics - Couverture souple

Pellish, Jonathan A

 
9781289013929: Radiation Status of Sub-65 NM Electronics
Couverture souple
ISBN 10 : 1289013926 ISBN 13 : 9781289013929
Editeur : Bibliogov, 2013

Synopsis

Ultra-scaled complementary metal oxide semiconductor (CMOS) includes commercial foundry capabilities at and below the 65 nm technology node Radiation evaluations take place using standard products and test characterization vehicles (memories, logic/latch chains, etc.) NEPP focus is two-fold: (1) Conduct early radiation evaluations to ascertain viability for future NASA missions (i.e. leverage commercial technology development). (2) Uncover gaps in current testing methodologies and mechanism comprehension -- early risk mitigation.

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Éditeur
Bibliogov
Date d'édition
2013
Langue
anglais
ISBN 10 
1289013926
ISBN 13 
9781289013929
Reliure
Broché
Nombre de pages
28
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible