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High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test - Couverture rigide

 
9781402072550: High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

Synopsis

Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.
High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.

High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.

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  • ÉditeurSpringer-Verlag New York Inc.
  • Date d'édition2002
  • ISBN 10 1402072554
  • ISBN 13 9781402072550
  • ReliureRelié
  • Langueanglais
  • Nombre de pages250
  • Coordonnées du fabricantnon disponible

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Edition présentée

ISBN 10 :  1475784740 ISBN 13 :  9781475784749
Editeur : Springer, 2013
Couverture souple

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Adams, R. Dean
Edité par Springer, 2002
ISBN 10 : 1402072554 ISBN 13 : 9781402072550
Ancien ou d'occasion Couverture rigide

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ISBN 10 : 1402072554 ISBN 13 : 9781402072550
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Hardcover. Etat : New. Hardcover, /no DJunused, minor shelf-wearFree of any markings and no writing. For Additional Information or pictures, Please Inquire. N° de réf. du vendeur SKU002924

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R. Dean Adams
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ISBN 10 : 1402072554 ISBN 13 : 9781402072550
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Are memory applications more critical than they have been in the past? Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were. N° de réf. du vendeur 4094950

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R. Dean Adams
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. 266 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781402072550

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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully.High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test.High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 266 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781402072550

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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Are memory applications more critical than they have been in the past Yes, but even more critical is the number of designs and the sheer number of bits on each design. It is assured that catastrophes, which were avoided in the past because memories were small, will easily occur if the design and test engineers do not do their jobs very carefully. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is based on the author's 20 years of experience in memory design, memory reliability development and memory self test. High Performance Memory Testing: Design Principles, Fault Modeling and Self Test is written for the professional and the researcher to help them understand the memories that are being tested. N° de réf. du vendeur 9781402072550

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