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Thin-Film Capacitors for Packaged Electronics - Couverture rigide

 
9781402077050: Thin-Film Capacitors for Packaged Electronics

Synopsis

Thin-Film Capacitors for Packaged Electronics deals with the capacitors of a wanted kind, still needed and capable of keeping pace with the demands posed by ever greater levels of integration. It spans a wide range of topics, from materials properties to limits of what's the best one can achieve in capacitor properties to process modeling to application examples. Some of the topics covered are the following:
-Novel insights into fundamental relationships between dielectric constant and the breakdown field of materials and related capacitance density and breakdown voltage of capacitor structures,
-Electrical characterization techniques for a wide range of frequencies (1 kHz to 20 GHz),
-Process modeling to determine stable operating points,
-Prevention of metal (Cu) diffusion into the dielectric,
-Measurements and modeling of the dielectric micro-roughness.

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9781461348085: Thin-Film Capacitors for Packaged Electronics

Edition présentée

ISBN 10 :  1461348080 ISBN 13 :  9781461348085
Editeur : Springer, 2014
Couverture souple

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RYMASZEWSKI
Edité par Springer, 2003
ISBN 10 : 140207705X ISBN 13 : 9781402077050
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Jain Pushkar|Eugene J. Rymaszewski
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ISBN 10 : 140207705X ISBN 13 : 9781402077050
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Thin-Film Capacitors for Packaged Electronics deals with the capacitors of a wanted kind, still needed and capable of keeping pace with the demands posed by ever greater levels of integration. It spans a wide range of topics, from materials properties to limits of what's the best one can achieve in capacitor properties to process modeling to application examples. Some of the topics covered are the following: -Novel insights into fundamental relationships between dielectric constant and the breakdown field of materials and related capacitance density and breakdown voltage of capacitor structures, -Electrical characterization techniques for a wide range of frequencies (1 kHz to 20 GHz),-Process modeling to determine stable operating points, -Prevention of metal (Cu) diffusion into the dielectric, -Measurements and modeling of the dielectric micro-roughness. 180 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781402077050

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