Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM - Couverture souple

Egerton, Ray

 
9781441938374: Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM
Couverture souple
ISBN 10 : 1441938370 ISBN 13 : 9781441938374
Editeur : Springer-Verlag New York Inc., 2010

Synopsis

This book introduces current theory and practice of electron microscopy, primarily for undergraduates, as well as for technologists who use electron microscopes and to graduate students, university teachers and researchers who need a concise reference on the basic principles of microscopy.

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Présentation de l'éditeur

This book introduces current theory and practice of electron microscopy, primarily for undergraduates, as well as for technologists who use electron microscopes and to graduate students, university teachers and researchers who need a concise reference on the basic principles of microscopy.

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Éditeur
Springer-Verlag New York Inc.
Date d'édition
2010
Langue
anglais
ISBN 10 
1441938370
ISBN 13 
9781441938374
Reliure
Broché
Numéro d'édition
1
Nombre de pages
214
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

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