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Synopsis
This book provides insight into the use of CAD for layout analysis and optimization of interconnect in high speed, high complexity integrated circuits, which have become the dominating factor in determining system performance in nanometer technologies. The text investigates the effects on system performance and reliability of wire size, spacing, wire length, coupling length, load capacitance, rise time of the inputs, place of overlap, frequency, shields, signal direction and wire width for both the aggressors and the victim wires. The authors present a range of CAD algorithms and techniques for synthesizing and optimizing interconnect.
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Presents a range of CAD algorithms and techniques for synthesizing and optimizing interconnect Provides insight & intuition into layout analysis and optimization for interconnect in high speed, high complexity integrated circuits
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Presents a range of CAD algorithms and techniques for synthesizing and optimizing interconnectProvides insight & intuition into layout analysis and optimization for interconnect in high speed, high complexity integrated circuits 160 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781441938442
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Interconnect has become the dominating factor in determining system performance in nanometer technologies. Dedicated to this subject, Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies provides insight and intuition into layout analysis and optimization for interconnect in high speed, high complexity integrated circuits.The authors bring together a wealth of information presenting a range of CAD algorithms and techniques for synthesizing and optimizing interconnect. Practical aspects of the algorithms and the models are explained with sufficient details. The book investigates the most effective parameters in layout optimization. Different post-layout optimization techniques with complexity analysis and benchmarks tests are provided. The impact crosstalk noise and coupling on the wire delay is analyzed. Parameters that affect signal integrity are also considered. N° de réf. du vendeur 9781441938442
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Edité par
Springer US, Springer US Okt 2010, 2010
ISBN 10 : 1441938443
ISBN 13 : 9781441938442
Neuf
Taschenbuch
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Interconnect has become the dominating factor in determining system performance in nanometer technologies. Dedicated to this subject, Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies provides insight and intuition into layout analysis and optimization for interconnect in high speed, high complexity integrated circuits.The authors bring together a wealth of information presenting a range of CAD algorithms and techniques for synthesizing and optimizing interconnect. Practical aspects of the algorithms and the models are explained with sufficient details. The book investigates the most effective parameters in layout optimization. Different post-layout optimization techniques with complexity analysis and benchmarks tests are provided. The impact crosstalk noise and coupling on the wire delay is analyzed. Parameters that affect signal integrity are also considered.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 160 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781441938442
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Edité par
Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10 : 1441938443
ISBN 13 : 9781441938442
Neuf
Paperback / softback
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Paperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 264. N° de réf. du vendeur C9781441938442
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Etat : New. pp. 160. N° de réf. du vendeur 263057682
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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Paperback. Etat : Brand New. 137 pages. 9.25x6.25x0.37 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-1441938443
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Interconnect Noise Optimization in Nanometer Technologies
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