Synopsis
Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability.
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Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability.
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Nanoscale Memory Repair (Integrated Circuits and Systems)
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Springer, 2011
ISBN 10 : 1441979573
ISBN 13 : 9781441979575
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Nanoscale Memory Repair (eng)
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Nanoscale Memory Repair
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ISBN 10 : 1441979573
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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. As a result, repair techniques have been indispensable for nano-scale memories. Without these techniques, even modern MPUs/ SoCs, in which memories have dominated the area and performance, could not have been designed successfully. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability. Presents the first comprehensive reference to reliability and repair techniques for nano-scale memories; Covers both the mathematical foundations and engineering applications of yield and reliability in nano-scale memories;Includes a variety of practical circuits and logic, critical for higher yield and reliability, which have been proven successful during the authors' extensive experience in developing memories and low-voltage CMOS circuits. . N° de réf. du vendeur 9529848/12
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Nanoscale Memory Repair (Integrated Circuits and Systems)
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Nanoscale Memory Repair
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Nanoscale Memory Repair
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability. 218 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781441979575
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Nanoscale Memory Repair
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Gebunden. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Presents the first comprehensive reference to reliability and repair techniques for nano-scale memoriesCovers both the mathematical foundations and engineering applications of yield and reliability in nano-scale memoriesIncludes a variety o. N° de réf. du vendeur 4176479
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ISBN 10 : 1441979573
ISBN 13 : 9781441979575
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Yield and reliability of memories have degraded with device and voltage scaling in the nano-scale era, due to ever-increasing hard/soft errors and device parameter variations. This book systematically describes these yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering, as well as an array of repair techniques, based on the authors' long careers in developing memories and low-voltage CMOS circuits. Nanoscale Memory Repair gives a detailed explanation of the various yield models and calculations, as well as various, practical logic and circuits that are critical for higher yield and reliability. N° de réf. du vendeur 9781441979575
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