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Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs - Couverture souple

 
9781441995476: Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

Synopsis

This book introduces design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).

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This book introduces design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs).

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9781441995490: Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs

Edition présentée

ISBN 10 :  1441995498 ISBN 13 :  9781441995490
Editeur : Springer, 2011
Couverture souple

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Mohammed Ismail, Sleiman Bou-Sleiman
Edité par Springer New York, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
Ancien ou d'occasion Couverture souple

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Etat : Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 108 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher. N° de réf. du vendeur 11245597/12

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Sleiman Bou-Sleiman|Mohammed Ismail
Edité par Springer New York, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
Neuf Kartoniert / Broschiert
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Kartoniert / Broschiert. Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Applies Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the out. N° de réf. du vendeur 4176716

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Mohammed Ismail
Edité par Springer New York Sep 2011, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
Neuf Taschenbuch
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. 108 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781441995476

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Bou-Sleiman, Sleiman
Edité par Springer, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
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Mohammed Ismail
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 108 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781441995476

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Bou-sleiman, Sleiman; Ismail, Mohammed
Edité par Springer, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis

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Mohammed Ismail
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
Neuf Taschenbuch

Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book will introduce design methodologies, known as Built-in-Self-Test (BiST) and Built-in-Self-Calibration (BiSC), which enhance the robustness of radio frequency (RF) and millimeter wave (mmWave) integrated circuits (ICs). These circuits are used in current and emerging communication, computing, multimedia and biomedical products and microchips. The design methodologies presented will result in enhancing the yield (percentage of working chips in a high volume run) of RF and mmWave ICs which will enable successful manufacturing of such microchips in high volume. N° de réf. du vendeur 9781441995476

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Bou-Sleiman, Sleiman
Edité par Springer, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
Neuf Couverture souple

Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

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Bou-Sleiman, Sleiman
Edité par Springer 2011-09, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
Neuf PF

Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni

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Bou-sleiman, Sleiman; Ismail, Mohammed
Edité par Springer, 2011
ISBN 10 : 1441995471 ISBN 13 : 9781441995476
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Vendeur : GreatBookPrices, Columbia, MD, Etats-Unis

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