High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Couverture souple

Eggersglüß, Stephan; Drechsler, Rolf

 
9781441999771: High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability

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Synopsis

Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.

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Edition présentée

ISBN 10 :  1441999752 ISBN 13 :  9781441999757
Editeur : Springer-Verlag New York Inc., 2012
Couverture rigide