Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Couverture souple

Laurila, Tomi; Vuorinen, Vesa; Paulasto-Kröckel, Mervi

 
9781447124719: Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach
Couverture souple
ISBN 10 : 1447124715 ISBN 13 : 9781447124719
Editeur : Springer, 2012

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Synopsis

Introduction: Away from trial and error methods.- Materials and interfaces in Microsystems.- Introduction to mechanics of materials.- Introduction to thermodynamic-kinetic method.- Interfacial adhesion in polymer systems.- Evolution of different types of interfacial structures.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2012
Langue
anglais
ISBN 10 
1447124715
ISBN 13 
9781447124719
Reliure
Taschenbuch
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Allemagne

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