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Computer Vision for Electronics Manufacturing - Couverture souple

 
9781461278412: Computer Vision for Electronics Manufacturing
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9780306431821: Computer Vision for Electronic Manufacturing

Edition présentée

ISBN 10 :  0306431823 ISBN 13 :  9780306431821
Editeur : Kluwer Academic/Plenum Publishers, 1990
Couverture rigide

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Pau, L.F
Edité par Springer (2011)
ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
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(Bayonne, NJ, Etats-Unis)
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Pau, L.F
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ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
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L.F Pau
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Pau, L.F
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L. F. Pau
ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
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Description du livre Paperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days. N° de réf. du vendeur C9781461278412

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L. F Pau
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ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
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(Einbeck, Allemagne)
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Description du livre Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - DEFECT PROPORTION OF DETECTION INITIAL RATE DETECTION RATE INSPECTOR 3 COMPLEXITY OF TIMES PAN OF PERFORMING o~ ________________________ o~ ______________________ __ -; INSPECTION TASK -; VISUAL INSPECTION Fagure 1. Trends in relations between the complexity of inspection tasks, defect detection rates (absolute and relative), and inspection time. Irrespective of the necessities described above, and with the excep tion of specific generic application systems (e.g., bare-board PCB inspection, wafer inspection, solder joint inspection, linewidth measure ment), vision systems are still not found frequently in today's electronics factories. Besides cost, some major reasons for this absence are: 1. The detection robustness or accuracy is still insufficient. 2. The total inspection time is often too high, although this can frequently be attributed to mechanical handling or sensing. 3. There are persistent gaps among process engineers, CAD en gineers, manufacturing engineers, test specialists, and computer vision specialists, as problems dominate the day-to-day interac tions and prevent the establishment of trust. 4. Computer vision specialists sometimes still believe that their contributions are universal, so that adaptation to each real problem becomes tedious, or stumbles over the insufficient availabIlity of multidisciplinary expertise. Whether we like it or not, we must still use appropriate sensors, lighting, and combina tions of algorithms for each class of applications; likewise, we cannot design mechanical handling, illumination, and sensing in isolation from each other. N° de réf. du vendeur 9781461278412

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L.F Pau
Edité par Springer US (2011)
ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
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moluna
(Greven, Allemagne)
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Description du livre Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. DEFECT PROPORTION OF DETECTION INITIAL RATE DETECTION RATE INSPECTOR 3 COMPLEXITY OF TIMES PAN OF PERFORMING o~ ________________________ o~ ______________________ __ -. INSPECTION TASK -. VISUAL INSPECTION Fagure 1. Trends in relations between the complex. N° de réf. du vendeur 4190433

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Pau, L.F
Edité par Springer 2011-09 (2011)
ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
Neuf PF Quantité disponible : 10
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Chiron Media
(Wallingford, Royaume-Uni)
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Description du livre PF. Etat : New. N° de réf. du vendeur 6666-IUK-9781461278412

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L. F Pau
Edité par Springer US Sep 2011 (2011)
ISBN 10 : 1461278414 ISBN 13 : 9781461278412
Neuf Taschenbuch Quantité disponible : 2
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BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
(Bergisch Gladbach, Allemagne)
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Description du livre Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -DEFECT PROPORTION OF DETECTION INITIAL RATE DETECTION RATE INSPECTOR 3 COMPLEXITY OF TIMES PAN OF PERFORMING o~ ________________________ o~ ______________________ __ -; INSPECTION TASK -; VISUAL INSPECTION Fagure 1. Trends in relations between the complexity of inspection tasks, defect detection rates (absolute and relative), and inspection time. Irrespective of the necessities described above, and with the excep tion of specific generic application systems (e.g., bare-board PCB inspection, wafer inspection, solder joint inspection, linewidth measure ment), vision systems are still not found frequently in today's electronics factories. Besides cost, some major reasons for this absence are: 1. The detection robustness or accuracy is still insufficient. 2. The total inspection time is often too high, although this can frequently be attributed to mechanical handling or sensing. 3. There are persistent gaps among process engineers, CAD en gineers, manufacturing engineers, test specialists, and computer vision specialists, as problems dominate the day-to-day interac tions and prevent the establishment of trust. 4. Computer vision specialists sometimes still believe that their contributions are universal, so that adaptation to each real problem becomes tedious, or stumbles over the insufficient availabIlity of multidisciplinary expertise. Whether we like it or not, we must still use appropriate sensors, lighting, and combina tions of algorithms for each class of applications; likewise, we cannot design mechanical handling, illumination, and sensing in isolation from each other. 348 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461278412

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