From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Couverture souple

Livre 28 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Khare, Jitendra B.; Maly, Wojciech

 
9781461313786: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications
Couverture souple
ISBN 10 : 1461313783 ISBN 13 : 9781461313786
Editeur : Springer, 2011

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2011
Langue
anglais
ISBN 10 
1461313783
ISBN 13 
9781461313786
Reliure
Taschenbuch
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
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Allemagne

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