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Boundary-Scan Test: A Practical Approach - Couverture souple

 
9781461363712: Boundary-Scan Test: A Practical Approach

Synopsis

The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through which packages with hundreds of pins at very small pitches of down to a fraction of a millimetre, have become available. As a consequence the trace distances between the copper tracks on a printed circuit board cmne down to the same value. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Therefore a new board test methodology had to be invented. Following the evolution in the IC test technology. Boundary-Scan testing hm; become the new approach to PCB testing. By taking precautions in the design of the IC (design for testability), testing on PCB level can be simplified 10 a great extent. This condition has been essential for the success of the introduction of Boundary-Sc, m Test (BST) at board level.

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9780792392965: Boundary-Scan Test: A Practical Approach

Edition présentée

ISBN 10 :  0792392965 ISBN 13 :  9780792392965
Editeur : Kluwer Academic Publishers, 2009
Couverture souple

Résultats de recherche pour Boundary-Scan Test: A Practical Approach

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Bleeker, Harry; Van Den Eijnden, Peter; De Jong, Frans
Edité par Springer, 2012
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Harry Bleeker
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
Neuf Paperback

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Paperback. Etat : new. Paperback. The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through which packages with hundreds of pins at very small pitches of down to a fraction of a millimetre, have become available. As a consequence the trace distances between the copper tracks on a printed circuit board cmne down to the same value. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Therefore a new board test methodology had to be invented. Following the evolution in the IC test technology. Boundary-Scan testing hm; become the new approach to PCB testing. By taking precautions in the design of the IC (design for testability), testing on PCB level can be simplified 10 a great extent. This condition has been essential for the success of the introduction of Boundary-Sc,m Test (BST) at board level. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. N° de réf. du vendeur 9781461363712

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Bleeker, Harry; Van Den Eijnden, Peter; De Jong, Frans
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Bleeker, Harry; Van Den Eijnden, Peter; De Jong, Frans
Edité par Springer, 2012
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Harry Bleeker
Edité par Springer US Okt 2012, 2012
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through which packages with hundreds of pins at very small pitches of down to a fraction of a millimetre, have become available. As a consequence the trace distances between the copper tracks on a printed circuit board cmne down to the same value. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Therefore a new board test methodology had to be invented. Following the evolution in the IC test technology. Boundary-Scan testing hm; become the new approach to PCB testing. By taking precautions in the design of the IC (design for testability), testing on PCB level can be simplified 10 a great extent. This condition has been essential for the success of the introduction of Boundary-Sc,m Test (BST) at board level. 244 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461363712

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Harry Bleeker|Peter van den Eijnden|Frans de Jong
Edité par Springer US, 2012
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through whi. N° de réf. du vendeur 4194557

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Frans de Jong Harry Bleeker Peter van den Eijnden
Edité par Springer, 2012
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Harry Bleeker
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through which packages with hundreds of pins at very small pitches of down to a fraction of a millimetre, have become available. As a consequence the trace distances between the copper tracks on a printed circuit board cmne down to the same value. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Therefore a new board test methodology had to be invented. Following the evolution in the IC test technology. Boundary-Scan testing hm; become the new approach to PCB testing. By taking precautions in the design of the IC (design for testability), testing on PCB level can be simplified 10 a great extent. This condition has been essential for the success of the introduction of Boundary-Sc,m Test (BST) at board level.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 244 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461363712

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Harry Bleeker
Edité par Springer US, 2012
ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The ever-increasing miniaturization of digital electronic components is hampering the conventional testing of Printed Circuit Boards (PCBs) by means of bed-of-nails fixtures. Basically this is caused by the very high scale of integration of ICs, through which packages with hundreds of pins at very small pitches of down to a fraction of a millimetre, have become available. As a consequence the trace distances between the copper tracks on a printed circuit board cmne down to the same value. Not only the required small physical dimensions of the test nails have made conventional testing unfeasible, but also the complexity to provide test signals for the many hundreds of test nails has grown out of limits. Therefore a new board test methodology had to be invented. Following the evolution in the IC test technology. Boundary-Scan testing hm; become the new approach to PCB testing. By taking precautions in the design of the IC (design for testability), testing on PCB level can be simplified 10 a great extent. This condition has been essential for the success of the introduction of Boundary-Sc,m Test (BST) at board level. N° de réf. du vendeur 9781461363712

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de Jong Frans Bleeker Harry van den Eijnden Peter
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ISBN 10 : 1461363713 ISBN 13 : 9781461363712
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