Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Couverture souple

Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X.-D.; Yu, Hao

 
9781461407898: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Couverture souple
ISBN 10 : 1461407893 ISBN 13 : 9781461407898
Editeur : Springer, 2012

L'édition de cet ISBN n'est malheureusement plus disponible.

Synopsis

Fundamentals of Statistical Analysis.- Statistical Full-Chip Leakage Power Analysis.- Statistical Full-Chip Dynamic Power Analysis.- Statistical Parasitic Extraction.- Statistical Compact Modeling and Reduction of Interconnects.- Statistical Analysis of Global Interconnects.- Statistical Analysis and Modeling for Analog and Mixed-Signal Circuits.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Éditeur
Springer
Date d'édition
2012
Langue
anglais
ISBN 10 
1461407893
ISBN 13 
9781461407898
Reliure
Taschenbuch
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Allemagne

Autres éditions populaires du même titre

9781461407874: Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer Vlsi Designs

Edition présentée

ISBN 10 :  1461407877 ISBN 13 :  9781461407874
Editeur : Springer-Verlag New York Inc., 2012
Couverture rigide