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Synopsis
This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.
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This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.
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Abu-Rahma:Nanometer Variation-Tolerant (eng)
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM
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Springer New York Sep 2012, 2012
ISBN 10 : 1461417481
ISBN 13 : 9781461417484
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost, while achieving higher performance and density. With the drastic increase in memory densities, lower supply voltages, and higher variations, statistical simulation methodologies become imperative to estimate memory yield and optimize performance and power.This book is an invaluable reference on robust SRAM circuits and statistical design methodologies for researchers and practicing engineers in the field of memory design. It combines state of the art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques; Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view;Helps designers optimize memory yield, with practical statistical design methodologies and yield estimation techniques. 188 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461417484
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield
Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM
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Springer New York, 2012
ISBN 10 : 1461417481
ISBN 13 : 9781461417484
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Nanometer Variation-Tolerant Sram
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Nanometer Variation-Tolerant Sram
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Nanometer Variation-Tolerant Sram
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield
Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni
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Hardcover. Etat : Brand New. 2013 edition. 186 pages. 9.25x6.25x0.50 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-1461417481
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM
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Springer, Springer Sep 2012, 2012
ISBN 10 : 1461417481
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost, while achieving higher performance and density. With the drastic increase in memory densities, lower supply voltages, and higher variations, statistical simulation methodologies become imperative to estimate memory yield and optimize performance and power.This book is an invaluable reference on robust SRAM circuits and statistical design methodologies for researchers and practicing engineers in the field of memory design. It combines state of the art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques;Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view;Helps designers optimize memory yield, with practical statistical design methodologies and yield estimation techniques.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 188 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461417484
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Nanometer Variation-Tolerant SRAM : Circuits and Statistical Design for Yield
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Buch. Etat : Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Variability is one of the most challenging obstacles for IC design in the nanometer regime. In nanometer technologies, SRAM show an increased sensitivity to process variations due to low-voltage operation requirements, which are aggravated by the strong demand for lower power consumption and cost, while achieving higher performance and density. With the drastic increase in memory densities, lower supply voltages, and higher variations, statistical simulation methodologies become imperative to estimate memory yield and optimize performance and power.This book is an invaluable reference on robust SRAM circuits and statistical design methodologies for researchers and practicing engineers in the field of memory design. It combines state of the art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. Provides comprehensive review of state-of-the-art, variation-tolerant SRAM circuit techniques; Discusses Impact of device related process variations and how they affect circuit and system performance, from a design point of view;Helps designers optimize memory yield, with practical statistical design methodologies and yield estimation techniques. N° de réf. du vendeur 9781461417484
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