Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy - Couverture rigide
Livre 25 sur 60: Nanostructure Science and Technology
Synopsis
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
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À propos de l?auteur
Thomas Vogt is Director of the NanoCenter Educational Foundation and Distinguished Professor of Chemistry & Biochemistry at the University of South Carolina.
Wolfgang Dahmen is a professor at RWTH Aachen.
Peter G. Binev is a Professor of Mathematics at the University of South Carolina.
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy (Nanostructure Science and Technology)
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Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy
Edité par
Springer New York Mrz 2012, 2012
ISBN 10 : 146142190X
ISBN 13 : 9781461421900
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing 192 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781461421900
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Buch. Etat : Neu. Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy | Thomas Vogt (u. a.) | Buch | Nanostructure Science and Technology | ix | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461421900 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. N° de réf. du vendeur 106747723
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Springer, Springer Mär 2012, 2012
ISBN 10 : 146142190X
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