Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - Couverture souple

Livre 5 sur 68: SpringerBriefs in Materials

Joy, David C

 
9781461486602: Helium Ion Microscopy: Principles and Applications

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Edition présentée

ISBN 10 :  1461486599 ISBN 13 :  9781461486596
Editeur : Springer, 2013
Couverture souple