High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology - Couverture souple

Orloff, Jon; Swanson, Lynwood; Utlaut, Mark

 
9781461507666: High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications : The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology
Couverture souple
ISBN 10 : 1461507669 ISBN 13 : 9781461507666
Editeur : Springer, 2011

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Synopsis

Preface. About the Authors. Introduction. 1. Field Ionization Sources. 2. Physics of Liquid Metal Ion Sources. 3. Ion Optics for LMIS. 4. Interactions of Ions with Solids. 5. Practical Focused Ion Beam Optics and Systems. 6. Applications of Focused Ion Beams. Appendix 1. Elements of the Theory of Field Desorption and Ionization. Appendix 2. Table of Sputter Yields. Index.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2011
Langue
anglais
ISBN 10 
1461507669
ISBN 13 
9781461507666
Reliure
Taschenbuch
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
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Allemagne

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