Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices - Couverture souple

Cristoloveanu, Sorin; Li, Sheng

 
9781461522461: Electrical Characterization of Silicon-on-Insulator Materials and Devices
Couverture souple
ISBN 10 : 1461522463 ISBN 13 : 9781461522461
Editeur : Springer, 2011

L'édition de cet ISBN n'est malheureusement plus disponible.

Synopsis

1. Introduction. 2. Methods of Forming SOI Wafers. 3. SOI Devices. 4. Wafer Screening Techniques. 5. Transport Measurements. 6. SUS Capacitor Based Characterization Techniques. 7. Diode Measurements. 8. Transistor Characteristics. 9. Transistor Based Characterization Techniques. 10. Monitoring the Transistor Degradation. Index.

Les informations fournies dans la section « Synopsis » peuvent faire référence à une autre édition de ce titre.

Éditeur
Springer
Date d'édition
2011
Langue
anglais
ISBN 10 
1461522463
ISBN 13 
9781461522461
Reliure
Paperback
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
non disponible

Autres éditions populaires du même titre

9780792395485: Electrical Characterization of Silicon-On-Insulator Materials and Devices

Edition présentée

ISBN 10 :  0792395484 ISBN 13 :  9780792395485
Editeur : Kluwer Academic Publishers, 1995
Couverture rigide