Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach - Couverture souple

Livre 1 sur 40: Frontiers in Electronic Testing

Beenker, F.P.M.; Bennetts, R.G.; Thijssen, A.P.

 
9781461523666: Testability Concepts for Digital ICs: The Macro Test Approach
Couverture souple
ISBN 10 : 1461523664 ISBN 13 : 9781461523666
Editeur : Springer, 2011

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Synopsis

Preface. 1. Introduction. 2. Defect-Oriented Testing. 3. Macro Test: A Framework for Testable IC Design. 4. Examples of Leaf-Macro Test Techniques. 5. Scan Chain Routing with Minimal Test Application Time. 6. Test Control Block Concepts. 7. Exploiting Parallelism in Leaf-Macro Access. 8. Timing Aspects of CMOS VLSI Circuits. List of Symbols and Abbreviations. References. Index.

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Éditeur
Springer
Date d'édition
2011
Langue
anglais
ISBN 10 
1461523664
ISBN 13 
9781461523666
Reliure
Taschenbuch
Coordonnées du fabricant
non disponible
Personne responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
https://www.also.com/ec/cms5/en_6000/6000/index.jsp

Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Allemagne

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