Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level - Couverture souple

Miller, Michael K.

 
9781461542827: Atom Probe Tomography: Analysis at the Atomic Level

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Synopsis

Preface. Acknowledgements. 1. Overview and Historical Evolution. 2. The Art of Specimen Preparation. 3. Field Ion Microscopy. 4. Instrumentation. 5. Experimental Factors. 6. Data Representations and Analysis. Bibliography. Appendices.

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Edition présentée

ISBN 10 :  0306464152 ISBN 13 :  9780306464157
Editeur : Kluwer Academic/Plenum Publishers, 2000
Couverture rigide