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EXAFS Spectroscopy: Techniques and Applications - Couverture souple

 
9781475712407: EXAFS Spectroscopy: Techniques and Applications

Synopsis

This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant.

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9780306406546: Exafs Spectroscopy: Techniques and Applications

Edition présentée

ISBN 10 :  0306406543 ISBN 13 :  9780306406546
Editeur : Plenum Publishing Corporation, 1981
Couverture rigide

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B. K. Teo|D. C. Joy
Edité par Springer US, 2012
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of. N° de réf. du vendeur 4207004

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Teo, B. K. K.; Joy, D. C.
Edité par Springer, 2012
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
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Vendeur : Ria Christie Collections, Uxbridge, Royaume-Uni

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ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 284 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781475712407

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D. C. Joy
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
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Vendeur : AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Allemagne

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Taschenbuch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant. N° de réf. du vendeur 9781475712407

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B. Kevin Teo
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
Neuf Paperback / softback
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Vendeur : THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Royaume-Uni

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Paperback / softback. Etat : New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 544. N° de réf. du vendeur C9781475712407

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B. K. Teo
Edité par Springer, 2012
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
Neuf Paperback

Vendeur : Revaluation Books, Exeter, Royaume-Uni

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Paperback. Etat : Brand New. 283 pages. 10.10x7.10x0.64 inches. In Stock. N° de réf. du vendeur x-1475712405

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D. C. Joy
Edité par Springer US Okt 2012, 2012
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
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Vendeur : BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Allemagne

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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book on Extended X-Ray Absorption Fine Structure (EXAFS) Spectroscopy grew out of a symposium, with the same title, organized by us at the 1979 Meeting of the Materials Research Society (MRS) in Boston, MA. That meeting provided not only an overview of the theory, instrumentation and practice of EXAFS Spectroscopy as currently employed with photon beams, but also a forum for a valuable dialogue between those using the conventional approach and those breaking fresh ground by using electron energy loss spectroscopy (EELS) for EXAFS studies. This book contains contributions from both of these groups and provides the interested reader with a detailed treatment of all aspects of EXAFS spectroscopy, from the theory, through consideration of the instrumentation for both photon and electron beam purposes, to detailed descriptions of the applications and physical limitations of these techniques. While some of the material was originally presented at the MRS meeting all of the chapters have been specially written for this book and contain much that is new and significant. 284 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781475712407

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Teo, B. K.
Edité par Springer 2012-10, 2012
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
Neuf PF

Vendeur : Chiron Media, Wallingford, Royaume-Uni

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Teo, B. K., Joy, D. C.
Edité par Springer, 2012
ISBN 10 : 1475712405 ISBN 13 : 9781475712407
Ancien ou d'occasion Paperback

Vendeur : Mispah books, Redhill, SURRE, Royaume-Uni

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Paperback. Etat : Like New. Like New. book. N° de réf. du vendeur ERICA77314757124056

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