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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.
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À propos de l'auteur
Manjul Bhushan is a technical consultant in New York.
Mark Ketchen is a technical consultant in Massachusetts.
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CMOS Test and Evaluation
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Springer, 2014
ISBN 10 : 1493913484
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Etat : Muy bueno. : CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective es un libro de Manjul Bhushan y Mark B. Ketchen, publicado por Springer. El libro tiene 424 páginas y está disponible en formato de tapa dura. EAN: 9781493913480 Tipo: Libros Categoría: Tecnología Título: CMOS Test and Evaluation Autor: Manjul Bhushan| Mark B. Ketchen Páginas: 424 Formato: tapa dura. N° de réf. du vendeur Happ-2026-07-02-59adb603
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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Relates CMOS product performance to basic physical models of transistors and passive elementsUses embedded test structures and sensors for product test debug, yield and performance evaluationDescribes impact of device variabilityDisc. N° de réf. du vendeur 4214097
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Buch. Etat : Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 440 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781493913480
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Buch. Etat : Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range. N° de réf. du vendeur 9781493913480
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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
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