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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range.
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À propos de l'auteur
Manjul Bhushan is a technical consultant in New York.
Mark Ketchen is a technical consultant in Massachusetts.
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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
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Taschenbuch. Etat : Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective is a single source for an integrated view of test and data analysis methodology for CMOS products, covering circuit sensitivities to MOSFET characteristics, impact of silicon technology process variability, applications of embedded test structures and sensors, product yield, and reliability over the lifetime of the product. This book also covers statistical data analysis and visualization techniques, test equipment and CMOS product specifications, and examines product behavior over its full voltage, temperature and frequency range. 440 pp. Englisch. N° de réf. du vendeur 9781493947027
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Etat : New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Relates CMOS product performance to basic physical models of transistors and passive elementsUses embedded test structures and sensors for product test debug, yield and performance evaluationDescribes impact of device variabilityDisc. N° de réf. du vendeur 385697040
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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
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CMOS Test and Evaluation | A Physical Perspective
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Taschenbuch. Etat : Neu. CMOS Test and Evaluation | A Physical Perspective | Manjul Bhushan (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2016 | Humana | EAN 9781493947027 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. N° de réf. du vendeur 103395335
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CMOS Test and Evaluation: A Physical Perspective
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